你的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 跌落試驗(yàn)機(jī) >
產(chǎn)品展示-
- 滾筒試驗(yàn)機(jī)
滾筒試驗(yàn)機(jī)專門用于測試插頭引線的滾動撞擊試驗(yàn)，方法是將插頭含后端電源線100mm處剪斷，作為試件，投入滾筒內(nèi)，依試件重量設(shè)定規(guī)定的滾動次數(shù)，使試件連續(xù)落下撞擊，然后檢查受損程度。
- 型號：XD-6804
- 更新日期：2025-10-13 ￥面議
-
- 手機(jī)滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)
手機(jī)滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)用于測試手機(jī)、機(jī)、對講機(jī)、PDA、電子詞典等數(shù)碼類產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)回轉(zhuǎn)（跌落）試驗(yàn)后，判斷其是否合格。
- 型號：XD-6406
- 更新日期：2025-10-13 ￥面議
-
- 手機(jī)微跌試驗(yàn)機(jī)
手機(jī)微跌試驗(yàn)機(jī)用于測試手機(jī)、機(jī)、對講機(jī)、PDA、電子詞典等數(shù)碼類產(chǎn)品通過自由往復(fù)跌落試驗(yàn)，以評估產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及附件經(jīng)過N次往復(fù)微跌后，判斷其是否合格。能實(shí)現(xiàn)手機(jī)等產(chǎn)品反復(fù)跌落，動作*，評估產(chǎn)品更具科學(xué)性。
- 型號：XD-6403
- 更新日期：2025-10-13 ￥面議
-
- 手機(jī)受控跌落試驗(yàn)機(jī)
手機(jī)受控跌落試驗(yàn)機(jī)旨在評估產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中因意外落下而造成的受損程度，適用于行動、電子書、機(jī)、電子辭典、CD、MP3等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品作原姿態(tài)跌落測試。
- 型號：XD-6405
- 更新日期：2025-10-13 ￥面議
-
- 手機(jī)自由落下試驗(yàn)機(jī)
手機(jī)自由落下試驗(yàn)機(jī)用于測試手機(jī)、機(jī)、對講機(jī)、PDA、電子詞典等數(shù)碼類產(chǎn)品通過自由落下試驗(yàn)，以評估產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及附件在一定高度經(jīng)過菱、角、面跌落測試后，判斷其是否合格。
- 型號：XD-6404B
- 更新日期：2025-10-13 ￥面議
-
- 手機(jī)自由跌落試驗(yàn)機(jī)
手機(jī)自由跌落試驗(yàn)機(jī)旨在評估產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中因意外落下而造成的受損程度，適用于行動、電子書、機(jī)、電子辭典、CD、MP3等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品作原姿態(tài)跌落測試。
- 型號：XD-6404C
- 更新日期：2025-10-13 ￥面議
